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                                        LED固晶制程中晶片破裂的控制和解決方法

                                        發布時間:2014-08-11 責任編輯:sherryyu

                                        【導讀】單電極芯片在封裝行業對固晶的要求非常高,例如在LED生產過程中,固晶質量的好壞影響著LED成品的質量。造成LED固晶破裂的因素有很多,我們僅從材料、機器、人為三方面因素,探討LED固晶破裂的解決方法。
                                         
                                        單電極芯片在封裝行業對固晶的要求非常高,例如在LED生產過程中,固晶質量的好壞影響著LED成品的質量。造成LED固晶破裂的因素有很多,我們僅從材料、機器、人為三方面因素,探討LED固晶破裂的解決方法。
                                         
                                        一、芯片材料本身破裂現象
                                         
                                        芯片破損大于單邊芯片寬度的1/5或破損處于斜角時,各單邊長大于2/5芯片或破損到鋁墊,此類芯片都不可接受(這個是芯片檢驗標準中的一個項目)。產生不良現象的原因主要有:
                                         
                                        1.芯片廠商作業不當
                                         
                                        2.芯片來料檢驗未抽檢到
                                         
                                        3.聯機操作時未挑出
                                         
                                        解決方法:
                                         
                                        1.通知芯片廠商加以改善
                                         
                                        2加強進料檢驗,破損比例過多的芯片拒收。
                                         
                                        3.聯機操作Q檢時,破損芯片應挑出,再補上好的芯片。
                                         
                                        二、LED固晶機器使用不當
                                         
                                        1、機臺吸固參數不當
                                         
                                        機臺的吸嘴高度和固晶高度直接受機臺計算機內參數控制。參數大,吸固高度??;參數小,吸固高度大,而芯片的破損與否,直接受機臺吸固高度參數影響。產生不良現象的原因主要是:機臺參數大,呼固高度低,芯片受力過大,導致芯片破損。
                                         
                                        解決方法:
                                         
                                        調整機臺參數,適當提高警惕吸嘴高度或固晶高度,在機臺“SETUP”模式中的“Bond head menu”內的第一項“Pick Level”調節吸嘴高度,再在第二項“Bond Level”調節固晶高度。
                                         
                                        2、吸嘴大小不符
                                         
                                        大小不同的芯片要用不同的吸嘴固晶。大的芯片用小的吸嘴、芯片吸不起來容易漏固;小的芯片用大的吸嘴、芯片容易打破,因此選用適當的吸咀,是固好芯片的前提。產生不良現象的原因是:吸咀太大,打破芯片。
                                         
                                        解決方法:選用適當的瓷咀。
                                         
                                        三、人為不當操作造成破裂
                                         
                                        A、作業不當
                                         
                                        未按規定操作,以致碰破芯片。產生不良現象的原因主要有:
                                         
                                        1.材料未拿好,掉落到地上。
                                         
                                        2.進烤箱時碰到芯片
                                         
                                        解決方法:拿材料時候,手要拿穩。進烤箱時,材料要平著,輕輕的放進去,不可傾斜或用力過猛。
                                         
                                        B、重物壓傷
                                         
                                        芯片受到外力過大而破裂。產生這種不良現象的原因主要有:
                                         
                                        1.顯微鏡掉落到材料上,以致打破芯片
                                         
                                        2.機臺零件掉落到材料上。
                                         
                                        3.鐵盤子壓到材料
                                         
                                        解決方法:
                                         
                                        1.顯微鏡螺絲要鎖緊
                                         
                                        2.定期檢查機臺零件有無松脫。
                                         
                                        3.材料上不能有鐵盤子等任何物體經過。
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